F20膜厚測量系統(tǒng)工作原理分析

這是一種行業(yè)標準、低成本、多功能桌面涂層厚度測量系統(tǒng)，已安裝在全球 5,000 多個裝置中。它可用于廣泛的應用，從研究和開發(fā)到制造現(xiàn)場的在線測量。
F20基于光學干涉法，可以在約1秒內(nèi)輕松測量透明或半透明薄膜的厚度、折射率和消光系數(shù)。
它還支持多點在線測量，并支持RS-232C和TCP/IP等外部通信，因此也可以從PLC或主機進行控制。

當入射光穿透不同物質的界面時將會有部份的光被反射，由于光的波動性導致從多個界面的反射光彼此干涉，從而使反射光的多波長光譜產(chǎn)生振蕩的現(xiàn)象。從光譜的震蕩頻率，愈多的震蕩代表較大的厚度。而其他的材料特性如折射率與粗糙度也也能同時測量。

主要用途

基本應用:

基本上所有光滑的、半透明或低吸收系數(shù)薄膜都可以測量。這包括幾乎所有的電介質與半導體材料，例如：